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描述：MS系列系統(tǒng)是Inframet主要測試系統(tǒng)，可測量多種紅外整機系統(tǒng)：熱像儀，可見光-近紅外相機，短波紅外相機、激光測距機和多傳感器測試系統(tǒng)等，進行全面測試和軸對準的測試。
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子,交通,航天,電氣,綜合 |
MS300測試系統(tǒng)外觀圖
MS系列系統(tǒng)是Inframet主要測試系統(tǒng)，可測量多種紅外整機系統(tǒng)：熱像儀，可見光-近紅外相機，短波紅外相機、激光測距機和多傳感器測試系統(tǒng)等，進行全面測試和軸對準的測試。
測試功能
1. 不同視場適用波段：可見光，近紅外，短波紅外，中波紅外和長波紅外；
2. 可測量多種紅外整機系統(tǒng)：熱像儀，可見光-近紅外相機，短波紅外相機、激光測距機和多傳感器測試系統(tǒng)等；
3. 可測量的重要參數(shù)如下
ü **小可分辨溫差MRTD | ü MTF | ü 信號傳遞函數(shù)SiTF |
ü NETD | ü FPN | ü 不均勻性non-uniformity |
ü 視場FOV | ü 畸變distortion | ü 放大倍率magnification |
ü 響應函數(shù)Response function | ü 3D Noise | ü 壞點Bad pixels |
ü PVF ü 信噪比SNR ü 三角方向鑒別TOD ü 噪聲等效光通量密度NEFD | ü SRF ü **小可探測溫差MDTD ü 噪聲等效反射率NER ü 噪聲等效功率NEP | ü ATF ü 自動測量MRTD ü 噪聲等效照度NEI ü 比探測率D* |
1. 不同視場的紅外熱像儀的軸對準；
2. 不同鏡頭焦距的可見光-近紅外相機的軸對準；
3. 可見光-近紅外相機與紅外熱像儀之間的軸對準；
MS多波段整機測試系統(tǒng)測量不同系統(tǒng)的原理如下。
測試熱像儀：圖像投影儀投射圖像到中波/長波范圍熱像儀，由計算機系統(tǒng)生成的圖像分析被檢測熱像儀。高精度的離軸反射式CDT平行光管，TCB差分黑體，以及一組紅外靶標用于投影。
測試可見光/NIR相機：可見光/NIR投影系統(tǒng)與圖像分析計算機系統(tǒng)相結(jié)合來測量電視相機。包括CDT反射式平行光管，可見光/NIR光源，和一組可見光靶標；
一系列不同的輻射源可以用在投影系統(tǒng)中（光譜范圍擴展到SWIR的光源或者MTB黑體）以及一系列SWIR用于投影系統(tǒng)中的靶標也可用于測量。
測量成像整機系統(tǒng)軸校準：電控的測試系統(tǒng)生成由被測試熱像儀及相機生成的圖像并計算兩者之間的角度：
a) 熱像儀在不同視場下的光軸；
b) 相機在不同鏡頭放大率下的光軸；
c)熱像儀與相機之間的光軸。
激光系統(tǒng)軸對準：計算機控制的測量系統(tǒng)分析激光系統(tǒng)在激光敏感卡上生成的圖像并計算光軸間的夾角：激光光軸（激光測距儀，激光指示器，激光照射器等）相對于成像系統(tǒng)光軸。注意：MS系統(tǒng)可以進行激光測距儀發(fā)射光軸的校準。這里假定激光測距儀發(fā)射光軸與接收已經(jīng)調(diào)整好。這里可選測量激光測距儀的光軸對MS系統(tǒng)軸的能力。
測量SWIR相機：SIWR投影系統(tǒng)與圖像分析計算機系統(tǒng)相結(jié)合來測量SIWR相機。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一組SWIR靶標；
測量不同圖像格式的熱像儀：當采用模擬視頻采集卡并且測量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時；也可以選擇數(shù)字圖像采集卡（Camera Link,或GigE，或LVDS，USB2.0）作為測量高分辨率高幀頻的數(shù)字輸出傳感器。
表1 MS測試系統(tǒng)配置參數(shù)
測試系統(tǒng)型號 | 平行光管口徑 |
MS 100 | 100mm |
MS 150 | 150mm |
MS 200 | 200mm |
MS 250 | 250mm |
MS 300 | 300mm |
MS 320 | 320mm |
MS 350 | 350mm |
MS 400 | 400mm |
MS 450 | 450mm |
MS 500 | 500mm |
MS 600 | 600mm |
