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不規(guī)則表面的太陽(yáng)反射率測(cè)量解決方案

 更新時(shí)間:2024-08-21 點(diǎn)擊量:225
使用Model SSR version 6太陽(yáng)光譜反射率測(cè)量?jī)x需要一個(gè)直徑約一英寸的平坦樣品。該儀器在測(cè)量口處提供漫射輻射源,并以與表面法線成二十度的窄立體角測(cè)量反射能量。理想情況下,樣品應(yīng)當(dāng)平坦且與測(cè)量口齊平。然而,一些表面雖然基本平坦但具有一定的紋理,例如鋪石、壓花材料等,由于這些表面有凸起和凹陷,導(dǎo)致某些部分無(wú)法與測(cè)量口齊平,因而可能無(wú)法被適當(dāng)照明。

 

第一種表面有淺的特征和一個(gè)位于測(cè)量口中心附近的較深凹陷,這種情況下,只要測(cè)量口周圍的表面基本齊平,測(cè)量誤差通常很小。第二種表面由于邊緣部分與測(cè)量口不齊平,導(dǎo)致無(wú)法獲得正確的照明效果,反射率測(cè)量值會(huì)低于實(shí)際值。

 

不規(guī)則表面測(cè)量的修正建議


 

對(duì)于不規(guī)則表面,由于部分表面與測(cè)量口的距離不一,測(cè)得的反射率通常偏低。建議的方法是,在測(cè)量口與表面接觸及不同距離下分別測(cè)量反射率。然后,通過(guò)估算表面與測(cè)量口“接觸"時(shí)的平均距離,利用已有的平面樣品的反射率與距離的關(guān)系曲線,對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行修正。

 

實(shí)際測(cè)量


在實(shí)際操作中,由于表面通常不僅有紋理,還有色彩的差異,因此需要大量測(cè)量以獲得準(zhǔn)確的平均值。文中提供了紅色碎石鋪石的測(cè)量數(shù)據(jù),經(jīng)過(guò)修正后的反射率變化不大,表明修正方法適用于這種類型的表面。


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